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西门子系统S7-200CPU

对西门子系统PLC S7-200CN解密器便是拆卸破译，是现如今才行Z为且真真正正好用的解密器。

数据库备份：(表明：这一步并不是必不可少的，你就可以绕过这一步，假如是比较复杂的操纵，包括了许多操作工数据信息得话，你Z好对备份数据一下，以便载入一个新的PLC的用处)在拆卸破译以前，串口通信2013版解密软件通信测试一下，看一下假如是02版以内的商品，您也就不用拆卸了，手机软件就能直接给您寻找登陆密码。

拆处理芯片，容积尺寸：CPU222为64K，CPU224和CPU224XP为256K,CPU226为512.

读处理芯片，下一步逐渐读处理芯片，实际尺寸需看芯片标志。例如226CN大多采用ATMEL的24C512处理芯片。或许你挑选24C512，224、224CN、224XP选用ATMEL24C256或是ST的4256BMP处理芯片，挑选24C256。222、222CN常采用ST的64k处理芯片，因此你挑选24C64。即便不是上面提到的型号规格那样就是这种芯片更换种类，彻底适配。

西门子电机制冷或排热常见方式

      西门子电机广泛用于现实生活中的工业设备和生产工艺流程。人们可以在工地、车辆、飞机场、智能机器人乃至DVD自动售卖机中寻找他们。不管哪种运用，怎么管理排热都是一个共通的难题。我们一般依据特定工作或者负荷规定来挑选西门子电机。排热监督是型号选择参考标准之一。尽管电机的设计在不断完善，但它们自始至终因能量损耗和高能耗等级而出现发热量。在你根据自己的需求选择适合自己的西门子电机时，应该考虑这一点。

在很多情况下，我们可以通过传导性耳聋制冷来达到排热。在此方法中，发热量根据组装插口从电动机传导到设备建筑结构。汽车企业通常是在性能参数中列明热管散热器规格。这类热管散热器规格被用来明确电机的持续扭距水平。排热水平将会影响电机的负载能力。

另一种西门子电机散热方法是强制性蒸发冷却。一般做法就是应用电动式风机吹开气体流过电动机。强制性蒸发冷却方式能够减少传导到设备构造热量，容许电动机在相对较高的负荷下运作。

液体冷却也可以用于西门子系统电机散热。在液体冷却方式中，乙二醇或其他液态冷却液在电机壳体或电磁线圈内部结构或周边循环系统流动性排热。这类似发动机的散热设计。

该电源电路都是由二只公司分立晶体三极管所组成的震荡和稳压电源电路，稳压管中的所有操纵，Z后也贯彻到开关器件基极电流控制上，一是开关器件的推动电流不稳定，二是分流管的Ic电流量太小，对开关器件Ib电流分离能力不够。

选择一只放大倍率强的分流管对该管开展代用，又查看了稳压电源电路中的所有阶段，未查出来变值与欠佳元器件，独立拆下来TL431，进行了稳压管试验规范，没什么问题。维修陷入困局。

处理芯片载入结束后假如是数据加密3级，你就能直接运作程序包中的《S7-200拆机解密软件》立马就能够显示密码了，假如是数据加密4级，那就需要破译此BIN文档了。《注意：在拆取了芯片后您千万别送电，如果没有芯片送电，plc会报警，导致内存数据全部丢失》。

四级破译，4级登陆密码的破译是CN解密的核心技术，破译4级登陆密码初期全是更换安装文件的，我们都知道西门子系统程序全是分成程序块、db块及系统块，登陆密码便是在系统软件块中的。不过4级密码设置就算你载入了登陆密码也无法上传程序流程，因此要将4级调整成3级或者更低等。假如你只更改密码保护级别，PLC会出错，而且不可以上传程序流程。

将线路板摆放了一阵子，并没有不管它，但脑中有时候仍在溜达着这个事情。将疑问放到了光耦合器PC817身上！TL431与PC817相互配合，将电压的改变防护和反馈至一次谐振电路。PC817含有发光二极管一只和光敏三极管一只，长期性工作之后，发光二极管的发光效率降低，光敏三极管受视度减少，通断内电阻增大，等同于误差放大器的变大信倍降低了。

此外，不排除光敏三极管衰老、低效能、放大倍率减少等一系列的很有可能，二者里的其一欠佳，便造成稳压管控制力变弱，电压上升。但光耦器件的自动测量，只有测到键入侧发光二极管的反反方向电阻器或电流，其他指标值则束手无策。

将光耦拆卸，改用一只高品质元器件，启动，测各界输出电路，哗！所有正常的和稳定下来！

能够汇总一点：电解电容器因工艺材质特性，特性非常容易渐变色和低效能，但是这种电容器的渐变色和低效能，或是很容易引起留意的。其他元器件，电阻器一般是比较稳压管的。 那样还很容易渐变色和低效能的正本，应当首属晶体三极管了。早期电子线路检修工作人员，有针对性的分立元件的晶体三极管，运维工作上对管道放大倍率的检测，变成基本手段之一。

之后，伴随着IC电源的发生，伴随着IC工作中可靠性的提升，通常忽视了对IC具体内容晶体三极管的渐变色和低效能问题。PC817也可以算是IC电源电路，内部结构搭载了发光二极管和三极管，其他被广泛使用的仿真模拟IC和数字IC，内部结构内部都是由晶体三极管所集成化，总是会有晶体三极管渐变色和低效能的可能性。在长期正在维修，我就遇到数例这样的事情。这样的事情，纯粹检测IC的管脚电阻器，难以发觉什么提示。而通电开展动态性电压检测，通常合理。

如遇疑难问题常见故障，一定要注意晶体三极管的渐变色和低效能，留意IC内部结构晶体三极管的渐变色、低效能、无效！

 渐变色、低效能元器件难以检验的原因及检测方式问题：

该类渐变色和低效能器件的难以检验，关键由两个原因导致：

1、测试工具的局限性。

Z常见测试工具为数字和指针式万用表，大电流和高电压，不可以由数字万用表给予，对于某些元器件，如直流电回路的储能电容电级导线电阻器的诞生，需在大电流和高电压状态下进行检验，才可以下结论。电容表和数字万用表的确对于此事束手无策。

2、检测方式问题。

检验电子器件，通常开展单一性的检测，如只是检测元件管脚电阻器，或只是检验在相电压；或喜欢用一只表检验其优劣。

应当扩展检测方式和检测方法。比如对逆变模块跟高抗压器件的检验，可以利用绝缘测试仪或使用绝缘摇表，对元器件开展电压击穿检测。寥老师在论坛帖子中提到用数显万用表、指针万用表、电容表和晶体三极管抗压（特点）检测仪四种检测工具，对逆变模块开展综合性能的测试，确实是一个好办法，值得学习。

如检验光耦元器件，可以从电路板上拆下来，用一只指针式万用表的x10k挡检测键入侧正向电阻（并提供正指导通电流量），用一只数字万用表，与此同时检测导出侧三极管的导通电阻，将检测结果与好一点的同样型号光耦元器件相对性照，则不会太难检测到低效能元器件。或者直接用另加开关电源，为光耦送进键入10mA电流量，对比测试其输出阻抗，则更加容易得到准确判断。总而言之，必须采用形式多样的测试方法和检测方式，提高自己的检测能力和提升检测**度，使“伪好元器件”显现出来。得练你要的“功”！