高温、低温试验目的用来考核和确定电工、电子产品在高温、低温环境条件贮存和(或)使用的适应性。

高温试验

产品寿命遵循“10°C规则”，因而高温试验作为*常用的试验，用于元器件和整机的筛选、老化试验、寿命试验、加速寿命试验、评价试验、同时在失效分析的验证上起重要作用。

高温试验的技术指标包括：温度、时间、上升速率。

注意产品和元器件的*大耐受温度极限。

低温试验

低温试验用于考核产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验。

低温试验的技术指标包括：温度、时间、降温速率。

注意产品从低温箱取出时由于温度突变会产生冷凝水。
(对温度循环、温度冲击、湿热试验均适用)。

高温、低温试验标准

GB2423.1 试验 A：低温试验方法

GB2423.2 试验 B:高温试验方法

GB2424.1 高温低温试验导则

高温、低温持续时间

持续时间应从下列时间中选取：2h，16h， 72h，96h等。
如果对试验样品是进行与耐久性或可靠性相联系的试验时，则试验持续时间应由有关标准根据产品特点和实际工作要求另行规定，具体测试时间可根据客户要求条件定。