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全自动三边封装设备出口CE认证申请
2023-12-15 09:36  浏览:32
全自动三边封装设备出口CE认证申请适用范围

模拟集成芯片、数字集成芯片、混合信号集成芯片、双极芯片和CMOS芯片、信号处理芯片、功率芯片、直插芯片、表面贴装芯片、航天级芯片,汽车级芯片,工业级芯片、商业级芯片等。

开封的方法

一般的有化学(Chemical)开封、机械(Mechanical)开封、激光(Laser)开封、Plasma Decap 


开封实验室:Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式(COB.QFP.DIP SOT 等)、打线类型(Au Cu Ag)。高分子的树脂体在热的浓硝酸(98%)或浓硫酸作用下,被腐蚀变成易溶于丙酮的低分子化合物,在超声作用下,低分子化合物被清洗掉,从而露出芯片表层。


开封方法一:在加热板上加热,温度要达100-150度,将芯片正面方向向上,用吸管吸取少量的fayanxiaosuan(浓度>98%)。滴在产品表面,这时树脂表面起化学反应,且冒出气泡,待反应稍止再滴,这样连滴5-10滴后,用镊子夹住,放入盛有丙酮的烧杯中,在超声波清洗机中清洗2-5分钟后,取出再滴,如此反复,直到露出芯片为止,最后必须以干净的丙酮反复清洗确保芯片表面无残留物。


开封方法二:将所有产品一次性放入98%的浓硫酸中煮沸。这种方法对于量多且只要看芯片是否破裂的情况较合适。缺点是操作较危险。要掌握要领。


开封注意点:所有一切操作均应在通风柜中进行,且要戴好防酸手套。产品开帽越到最后越要少滴酸,勤清洗,以避免过腐蚀。清洗过程中注意镊子勿碰到金丝和芯片表面,以免擦伤芯片和金丝。根据产品或分析要求有的开帽后要露出芯片下面的导电胶,或者第二点。另外,有的情况下要将已开帽产品按排重测。此时应首先放在80倍显微镜下观察芯片上金丝是否断,塌丝,如无则用刀片刮去管脚上黑膜后送测。注意控制开帽温度不要太高。



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从事各种机器设备CE认证指令,欧盟国家机构发证

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2006/42/ECCENEN ISO 11252:2013Lasers and laser-related equipment - Laser device - Minimum requirements for documentation (ISO 11252:2013)C28/11/2013OJ C 348 - 28/11/2013
2006/42/ECCENEN ISO 11553-1:2008Safety of machinery - Laser processing machines - Part 1: General safety requirements (ISO 11553-1:2005)C29/12/2009OJ C 214 - 08/09/2009
2006/42/ECCENEN ISO 11553-2:2008Safety of machinery - Laser processing machines - Part 2: Safety requirements for hand-held laser processing devices (ISO 11553-2:2007)C29/12/2009OJ C 214 - 08/09/2009


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