MIIManagement,电源上电复位测试,故障测试,MII测试,高速电路板稳定性测试


IR：命令寄存器，你可以写值到这个寄存器中通知JTAG干某件事。每个TAP只有一个IR寄存器而且长度是一定的。
DR：TAP可以有多个DR寄存器，与IR寄存器相似，每个IR值会选择不同的DR寄存器。计算JTAG链中的IC数目：
一个重要的应用是IR值是全一值，表示BYPASS命令，在BYPASS模式中，TAP控制器中的DR寄存器总是单bit的，从输入TDI到输出TDO，通常一个周期，啥也不干。
可用BYPASS模式计算IC数目。如果每个IC的TDI-TDO链的延迟是一个时钟，我们可以发送一些数据并*****它延迟了多久，那么久可以推算出JTAG链中的IC数目。



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