GJB548A-96微电子器件试验方法和程序，微电子器件试验方法，微电子器件试验方法和程序，微电子器件实验报告。

本标准规定了微电子器件统一的试验方法，控制和程序；包括为确定对军用及空间应用的自然因素和条件的抗损坏能力而进行的基本环境试验，物理和电试验，设计封装和材料的限制，标准的一半要求，工作质量和人员培训程序，以及为保证这些器件满足预定用途的质量与可靠性水平而必需采取的其他控制和限制。

本标准适用于微电子器件。

本标准所规定的微电子器件的环境试验，物理试验及电试验方法，在适当时，也适用于已批准的军用规范所未包括的微电子器件。

为保证按本标准筛选的相同等级的所有器件具有一致的质量和可靠性性，提供了相同水平的物理试验，电试验和环境实验，生产控制，工作质量以及各种材料。

微电子器件包含的试验有：低气压试验，浸液试验，绝缘电阻，耐湿热试验，稳态寿命试验，模拟寿命试验，盐雾腐蚀试验，温度循环试验，热冲击试验，密封试验等。