| 是否提供加工定制 : | 否 | 类型 : | 智能LCR测量仪 |
| 品牌 : | 安捷伦 | 型号 : | 安捷伦 |
| 测量范围 : | 20mV～1Vrms | 测量准确度 : | 0.1（%） |
| 测量频率 : | 100Hz-100kHz（Hz） | 测量速度 : | 25ms |
安捷伦(agilent) 安捷伦 4263B LCR测试仪 产品介绍和特性如下：
基本精度为0.1%测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程为20mV～1Vrms,以5mVrms分档
具有测试信号电平监视功能
高速测量:25ms
高速接触检查
大的电容测试量程
变压器参数测量(供选用)
Alilent 4263B LCR测试仪是Agilent公司生产的最价廉物美的低档LCR测试仪，供生产线上的元件评估和实验室中的基本阻抗测试使用。4263B具有能在正确状态下对测试进行模拟的5个测试频率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在这5个频率之外还可增添供选用的20kHz测试频率（选件002）。高速测量Agilent 4263B依靠在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高一产率，这种能力提高了电解电容顺和变压器测试的效率，4263B能检查测试端子与被测件（DUT）之间的接触状况，这种功能保证在生产中用自动处理器进行合格。不合格的测试的可靠性，有故障的被测件一旦从处理器中取去该仪器便能立即恢复正常工作，因此处理器始终能以最高速度工作。电解电容器测量Ailent 4263B的精度和宽的测量范围是对电解电容器进行精密测量的很好保证。充电后的电容器可能经常端放电，从而使仪器损坏。4263B的前端设计考虑了保护作用，能保持测试正常进行。变压器参数测量由于Ailent 4263B能进行匝数比（N），互感（M）和直流电阻（DCR）测量，故数据计算和改变测试装置不再是费时的工作（选件001）灵活的信号电平高速和电压、电流监视功能使4263B特别适用于测量与电平有关的被测件，始磁芯电感器。 技术指标：
| 测量功能 | ||
| 测量参数 | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
| 选件001 | 增加DCR（直流电阻），N（匝数比）和M（互感）测量 | |
| 测量电路形式 | 串联和并联 | |
| 数学功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 测试电缆长度 | 0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz) | |
| 测试信号数据 | ||
| 测试频率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
| 选件002 | 增加20kHz测试频率 | |
| 频率精度 | ±0.01%（频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) | |
| 输出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） | |
| 交流测试信号电平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分档 | |
| 精度 | ±（10%+10mV) | |
| 内部直流偏置 | ||
| 电平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 测量范围 | 参数 | 测量范围 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L,M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 测量精度： | ±0.1%(基本精度）（适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) | |
| 测量时间 | ||
| 模式 | 时间（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 长 | 500ms | |
| 测试信号电平监视器： | 电压和电流 | |
| 前端保护： | 当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。最大电容器电压为；在 Vmax≤250V时，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V时，Vmax=√(2/C)(典型值），C单位为F。 | |
| 显示数字： | 3，4或5位（可选择） | |
| 修正功能： | ||
| 开路/短路误差为0： | 消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差 | |
| 负载： | 利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度 | |
| 比较功能： | 对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比较结果 | |
| 接触检查功能： | 可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms | |
| 其它功能 | ||
| 存储/调用： | 可以存储和从内部非易失存储器调用10个仪器设置 | |
| 连续存储功能： | 若仪器补关断或出现电源故障。仪器设置（直流偏置接通/切断除外）将自动被存储起来（在23°±5℃下≦72小时） | |
| GPIB接口 | 所有控制设置，被测值和比较器信息 | |
| 处理器接口 | 所有输出信号均为负逻辑，光隔离的开路集电极。输出信号包括HIGH/IN/LOW，不接触，序号，测量结束和报警。输入信号包括键锁定和外触发 | |