| 型号 : | CSR-5000 | 品牌 : | RHESCA |
| 加工定制 : | 否 |
RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。
为成膜研究与测试所必备的测试设备。
CSR-5000超薄膜附着强度测试仪特点：·CSR-5000采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。
·可测量膜厚μm以下的超薄膜的密着强度。
·加热环境下评价可能。
·镜片等曲面测量可能。
·可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试·测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行·测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)
RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000规格荷重检出机构 荷重印加范围 1mN ～1500mN 荷重分解能 0.3mN 允许过负荷 300%FS剥离检出（垂直方向） 检出信号 加速度信号 频率范围 20Hz ～10kHz摩擦力检出（水平方向） 检出信号 速度信号 频率范围 20Hz ～10kHz传感器励振机构 励振频率 45Hz 励振振幅 0·5·10·20·40·50·80·100μm探针 触针形状 Φ1.6×6.5mm 材质 / 形状 金刚石R 5?10?15?25?50?100μm 材质 / 形状 蓝宝石R 250?500μmZ 轴驱动机构※荷重印加方向 驱动方式 步进马达驱动 驱动范围 20mm 驱动分解能 0.5μm 驱动速度( 测试时) 0 ～20μm/s 驱动速度( 准备时) 1mm/s试料台XY轴移动机构 驱动方式 千分尺手动调节 移动范围 ±6.5mmData输出方式 USB尺寸及重量 W540×D520×H630 (37kg) 含显微镜电源 AC100V ～240V
了解更多：http://www.hapoin.com/pulltester/csr-5000.htm
RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000相关产品：衡鹏供应RHESCA力世科 CSR-1000划痕测试仪RHESCA力世科 CSR-2000超薄膜附着强度测试仪