tir 100-2红外热发射率测定仪
产 地：德 国 （原装进口）
tir100–2红外热发射率测定仪，应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率，实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
tir 100-2可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。
tir 100-2是众所周知的tir 100的更新设备，我们不但在tir 100-2中融入了tir 100的可靠技术，还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。
内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的
大屏幕led显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为
仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量，并可在
热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号,超过97%的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。
应用：
1.镀膜玻璃的质量控制
热保护绝缘玻璃的的低u-值取决于玻璃镀膜的低发射率，tir 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
2.太阳能收集器生产的质量控制
优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此tir 100也是此行业质量控制的理想设备
技术数据
测量范围 < 0,020 … 0,980
精度 +- 0,002
光谱范围 2,5 μm - 40 μm
辐射能最大值 8 μm
黑体温度
积分时间 5秒
测量点 ~
额定功率 130 w（230 v~/115 v~ (opt.)）
尺寸
重量
校准用标准 低发射端：抛光铝
高发射端:黑色遮光罩
参考发射率 低发射端标准值~0,02
高发射端标准值~0,98
个别校准可参考国家物理实验室校准标准
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