belec compact port移动式光谱仪是针对在工业现场对金属材料进行快速鉴定和分析而设计的。可准确测定钢铁中的c、p、s。
belec compact port便携式直读光谱仪是同类产品中体型最小、重量最轻、功能最强大的光谱仪，重量只有17公斤，可配合专用的手推车，可同时放置氩气瓶，放便移动设备及适合在现场工作；belec compact port带触摸屏的计算机系统，以tft格式显示数据，具有最高的对比度和大视角平面显示屏，使分析数据易于读出，让操作员在现场操作特别方便，通过belec自行设计的win21软件，操作简易，对操作员本身的要求不高。为了扩展数据输入，可以输入试样的详细说明或材料牌号，也可以使用全尺寸键盘或者连接鼠标。belec compact port可选择配置两个光谱室以至可以分析多达36种不同元素。
belec compact port贝莱克光谱仪是火花发射光谱仪，快速金属分析。固定式和移动式光谱仪分别是火花台和火花枪，都带有电极，火花发生器在电极与分析的样品之间产生放电。在这个过程中，测试样品的材料转换成气态，材料元素的原子转换成一个更高能量的状态，当回到正常状态时，它们发射不同元素波长的光…
光直接进入（固定式）或者通过光纤（移动式）到达光谱室入口，在光谱室的入口，有一个很窄的狭缝，仅仅20 µm (1µm = 0,001mm)，通过这个狭缝，光到达衍射光栅的表面，这个光栅是凹面铝盘，直径为60mm（固定式）或者30mm（移动式），每毫米3600刻线！通过大量的光栅刻线，光被衍射，分解成不同波长的光，在焦点平面产生谱线，即光进入入射狭缝的图示，这个狭缝在焦平面上显示不同波长的光进入入射狭缝，结果就是光谱谱线。
相关合适的谱线需要一定的测量程序及光强的接收，光线通过出口狭缝，然后照射在光电倍增管上，根据样品中元素的浓度，到达光电倍增管辐射的强度相应的高或低。
生产过程中测量已知材料化学成份并产生的校正曲线，存储在计算机，这些曲线对进一步分析未知材料的化学成份提供了重要信息，数据结果以百分比或者ppm显示在显示器上，也可显示相应的化学牌号。最后，客户可以把所有的分析数据存储在电脑中，或者打印出来
belec compact port移动式光谱仪技术参数
belec compact port移动式光谱仪用于固体样品元素定量分析的仪器。光学系统采用pmt检测器，光谱范围覆盖全部典型材料。
belec compact port移动式光谱仪技术参数
光学系统：
- 帕邢-龙格结构双光谱室，
- 光栅刻线 3600线/mm
- 罗兰圆300 mm
- 检测器系统：pmt检测器
- 色散率： 0,9 nm/mm （一级光谱）
- 波长范围：190-410nm/ 220 – 430 nm
-
探头基本描述
低损耗钨电极（氩气火花探头）
高效能银电极（空气火花探头）
探头链接系统
标准探头
光源：
- 火花激发源最大频率400hz
- 单极放电
- 光源参数，点火频率参数计算机控制
- 点火电压： 20kv
电源：
220-240v/50-60hz;
待机功率100w；
分析功率600w；
配备大容量充电电池
计算机及读出系统 (integrated hardware)
- euro-card格式模块计算机系统， windows xp操作系统 ，
- ram > 512mb, 2 ¼” hard disc > 60 gb, cpu>1.0ghz
- 电池供电实时时钟日期功能
- 配备接口, usb, ps2, 串口l, vga, 局域网, 并口
显示屏
- 内置高清晰度10.4” 液晶显示器
- 坚固耐用工业触摸屏，防水防尘开合式集成键盘，易于操作
-
软件
- belec win21 光谱分析软件，多任务操作：
- 原材料分选
- 多种pmi测试程序
- 自动根据给定偏差和激发次数进行标定控制
- 可选激发次数进行pmi测试
- 根据设定数据进行电极清理
- 对称及不对称偏差
- pmi元素显示及相应偏差
- 检测结果存储及打印
- 可自由编辑报告
- 牌号鉴别
- 每套曲线存储超过300个牌号数据
- pmi测试中显示牌号
- 分析及搜索给出鉴定牌号
- 定向分析（成分近似分析）
- 分析程序无限制数量
- 显示光强值、强度比、再校准和校正强度比
- 分析结果百分含量或ppm显示
- 1-2点曲线再校准
- 相加和相乘的干扰校正
- 基体校正
- 自动选择谱线
- 任意激发次数的数据计算平均值、标准偏差及变异系数
- 结果超出曲线范围的标示
- 样品标识输入
- 分析数据可传输至外部计算机
- 连接外部打印机及显示器
- 硬盘故障自诊断
- 分析数据以excel, ascii等标准格式存储
- 曲线数量无限制
- 谱图对比鉴别牌号