源表特点：
多功能：可作源和负载，又能测；
高效率：满足多种测试需求；
可编程控制：高精度可调，灵活控制；
IV扫描：快速、直观显示，一步操作。
应用领域：
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
测试功能：
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微电路 |
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1 |
晶圆 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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2 |
芯片 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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器件 |
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1 |
二极管 |
正向导通电压、正向电流、反向击穿电压、反向漏电流 |
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2 |
三极管 |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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3 |
MOSFET |
L-IV测试，输入曲线、输出曲线 |
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4 |
IGBT |
L-IV测试，输出曲线、转移曲线 |
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5 |
晶闸管 |
正向电压电流曲线、反向电压电流曲线、触发特性 |
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电池 |
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1 |
锂电池 |
IV测试，充放电扫描曲线 |
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2 |
光伏电池 |
IV测试，放电扫描曲线 |
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材料 |
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1 |
石墨烯 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
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2 |
纳米线 |
IV测试、输入曲线、输出曲线 |
S型数字源表的特性有助于加快和简化实验室/工作台的测试工作：
· 全彩5英寸触摸屏用户界面：全彩显示屏和大屏幕字符易于读取。简洁的图标化菜单结构只需轻轻一触即可快速设置。
· 拓展的测量范围和出色的低电流测量能力：低电流 (100pA) 和低电压 (300mV)测试范围拓展了低电平测试能力。后面板上拓展的三同轴连接端口不需要昂贵的电缆适配器就能确保低电平测量的准确性。
· 内置快速帮助功能：帮助信息出现在有操作疑问的任何地方，勿需查阅厚重的使用手册。
· 错误和事件日志记录：错误消息和事件日志，帮助用户快速诊断错误，提高工作效率。
· S系列软件，兼容2400和2450，对使用2400和2450搭建的已有测试系统，可以实现替换，而无需修改测试系统软件。
更多有关源表应用之温差片IV测试信息请联系一八一四零六六三四七六