激光颗粒分布测量仪XCLD-520，性能稳定，测量精度高，重复性指标优越。激光粒度仪中的光电探测器采集颗粒在一定角度范围内的散射光来得到颗粒的粒径分布信息。由于光电探测器处在傅里叶透镜的焦平面上，因此探测器上的任一点都对应某一确定的散射角。光电探测器阵列由一系列同心环带组成，每一环带是一个独立的探测器，能将投射到上面的散射光能线性地转换成电压，然后送给采集卡。该卡将电信号放大，再进行A／D转换后送入计算机，按事先编制的程序根据米氏散射理论进行数据处理，把散射谱的空间分布反演为颗粒大小的分布。
主要特点：
1、使用了本所研制的大尺寸光点探测阵列，测量通道数达到66个测量精度有极大提高。
2、采用的激光器，对小颗粒可以分辨。
3、使用了多种进样方式。
激光颗粒分布测量仪XCLD-520规格参数：
激光颗粒分布测量仪XCLD-520实验结果分析：
在完成电路系统设计的基础上，进行激光粒度仪实验。在相同环境、相同采集电路、相同Mie算法条件下，分别用标准P4台式机和DSP+ARM电路进行实验。实验样品采用满足R-R单峰分布的粒径范围为0.1～100μm的碳酸钙。
以上两种方式分别连续20次测试，相对于标准样品，实测d50误差在±3％，d10和d90误差在±5％之内，重复精度在±3％以内，说明采集精度达到了仪器标准。实验验证，此系统设计方案比标准P4机运算至少快10s