1、低温试验：
低温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007。
只做：温度≥-70℃。
2、高温试验：
高温测试标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007。
只做：温度≤300℃。
3、恒定湿热试验：
湿热试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。
只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH
电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。
4、交变湿热试验：
电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Db：交变湿热（12h＋12h循环） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。
只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH。
5、振动试验：
振动试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005。
只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993。
只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995。
只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg。
6、温度变化试验：
环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。
7、温度/湿度组合循环试验：
环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009。
8、跌落试验：
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990。
9、机械冲击试验：
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987。
10、碰撞试验：
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987。
11、倾跌与翻倒：
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。
12、砂尘试验：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。
13、盐雾试验：
环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996；
人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006；
电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。
14、温度冲击试验：
环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。
15、IP防护等级（外壳防护试验）：
外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008，IEC 60529:2001；
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。
16、低温/振动(正弦)综合试验：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。
17、高温/振动(正弦)综合试验：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。
18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 GB/T 2423.59-2008。
19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验：
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 GB/T 2423.102-2008。
20、可靠性试验：
设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；
设备可靠性试验成功率的验证试验方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；
设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。
可靠性试验 第2部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；
可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。