c 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。
大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。
因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率试件的曲率对测量有影响。
这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。
早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。
近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。
还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。
现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。
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