集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能。
成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管。
性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近。
2006年，芯片面积从几平方毫米到350 mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管。
个集成电路雏形是由杰克·基尔比于1958年完成的，其中包括一个双极性晶体管，三个电阻和一个电容器，相较于现今科技的尺寸来讲，体积相当庞大。
如果电流大小不随电源相序的变化而变化，而总是与电动机某一出线端(电机的Ⅴ1接线端子)相接那根线上的电流，则说明是由于电动机自身缺陷导致的电流差。
如果电流大小不随上述两个规律变动，而是反复变化不定，则表明电源、电动机二者均有缺陷。
空载电流的测量因人而异。
最常用的是钳形电流表，先将钳形表拨至量程，将钳口张开，将一相电源线放入钳口正，闭合钳口，读取数值。
若数值偏小，应变换量程，如果待测电流小于5A，则应将导线在钳口铁芯上多绕几圈后放入钳口测量，所测数值应除以钳口内的导线根数即为实测值，然后再测其余两相电流值。
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三极管是信号放大元件和电子开关元件。
不过它还有一些特殊的用法，能够做成一些可独立使用的两端或三端器件，代替其它类型元件使用。
扩流把一只小功率可控硅和一只大功率三极管组合，就可得到一只大功率可控硅，其输出电流由大功率三极管的特性决定，见。
为电容容量扩大电路。
利用三极管的电流放大作用，将电容容量扩大若干倍。
这种等效电容和一般电容器一样，可浮置工作，适用于在长延时电路中作定时电容。
稳压二极管构成的稳压电路虽具有简单、元件少、制作经济方便的优点，但由于稳压二极管稳定电流一般只有数十毫安，因而决定了它只能用在负载电流不太大的场合。
集成电路（IC）芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，它直接影响到 IC 产品的质量及后续生产环节的顺利进行。
外观检测的方法有三种：一是传统的手工检测方法，主要靠目测，手工分检，可靠性不高，检测效率较低，劳动强度大，检测缺陷有疏漏，无法适应大批量生产制造；二是基于激光测量技术的检测方法，该方法对设备的硬件要求较高，成本相应较高，设备故障率高，维护较为困难；三是基于机器视觉的检测方法，这种方法由于检测系统硬件易于集成和实现、检测速度快、检测精度高，而且使用维护较为简便，因此，在芯片外观检测领域的应用也越来越普遍，是 IC 芯片外观检测的一种发展趋势。