半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
广角XRD
广角、小角XRD因测试角度范围而得名，广角即测试范围为10-120 °，常规广角测到90 °即可，有机材料或者有机金属配位材料一般测到四五十度也是可以的。广角XRD是常用到的测试条件，有机、无机材料判断晶型、物相类型、PDF卡片等基本都是通过广角XRD测试得到的谱图分析得到的。一般大家口中的XRD，XRD薄膜测试哪里有，没有特别说明测试条件的都是指的广角XRD，有时为了区别于块体薄膜这些样品形态的，也叫PXRD，即粉末XRD。
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快速了解纸状xrd样品制备
对于样品的准备工作，必须有足够的重视。常常由于急于要看到衍射图，XRD薄膜测试联系方式，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。
准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：
首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末；
然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
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"要重视特征线"，那么什么是特征线？"同一个物相可能有多套衍射数据，宁夏回族自治XRD薄膜测试，但要注意有的数据是被删除的"，这是什么意思？
所谓的特征线就是某物质而且是独有的容易判断的线，如石英的特征线就是 d=3.34的线，在混合物中如果出现这条线，有石英的可能性就大，其它也是这样，XRD薄膜测试价格，这在混合物中查物相是很有用的。
同一个物相可能有多套衍射数据是指有多个卡片的数据都是一个相，比如石英（SiO2）从 1 到 49 卷都有数据，共有 93 个数据卡片，但是 1-8 卷 15，16，33-1161，42-391 等（共38 个）这些卡片都是卡片库的编者已经删除的。
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