XRD物相分析单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
XRD与XRF的区别
XRD与XRF的区别：
1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。
2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，XRD物相分析费用多少，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。
3，仪器：单色X射线光源，XRD物相分析联系方式，不需要分光晶体。
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X射线物相定量分析
基本原理和分析
在X射线物相定性分析基础上的定量分析是根据样品中某一物相的衍射线积分强度正变化于其含量。不能严格正比例的原因是样品也产生吸收。对经过吸收校正后的的衍射线强度进行计算可确定物相的含量。这种物相定量分析是其它方法，XRD物相分析服务，如元素分析、成分组分分析等所不能替代的。
结晶度的XRD测定
高分子结晶体的X射线衍射研究
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精密测阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数，从而可确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，河南XRD物相分析，直接影响机器零件的使用寿命。利用测阵平面在不同方向上的间距的改变，可计算出残留应力的大小和方向。
对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷）。
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