AlGaN材料XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，AlGaN材料XRD检测平台，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
关于试片平面的准备
一般讲，尺寸细且均匀，颗粒成球状，性质比较稳定的粉末样品是比较理想的。
关于压制样品：一般的粉末样品好能够盖满整个样品槽，较少的时候沿着与光源垂直的方向成一个线状分布也可以，压的时候不要用太大力气，对于一些粘性比较大的样品可以先蒙上一张称量纸，上面用玻璃片轻轻压平，然后将称量纸轻轻取下来即可。
需要注意的问题：对于同一系列的样品，如果力道差别很大，就会引起样品密度的变化，从而会使衍射的强度受到影响。
关于试片的厚度
X射线的穿透能力很强，一般在10μm~20μm的数量级。所以必须考虑试样的厚度
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晶粒大小的计算
衍射粉末晶粒大小的计算主要是以衍射图谱的半宽高为依据来进行相关计算。如果把衍射峰简单地看作是一个三角形，那么峰的面积等于峰高乘以一半高处的宽度。这个半高处的高度有个专门名词，称为“半高宽”，英文写法是FWHM。
样品的晶粒比常规的晶粒小或晶粒内部存在微观的应变均会引起FWHM变宽，导致结果存在误差。所以在使用jade计算时，不同的粉末状态对应不同的计算方法，应根据粉末的实际情况选择相应的宽化因素。
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制作试样的技巧
1.将试样研磨，过筛至手摸无颗粒感
2.对于软而不便研磨的物质，可冷却变脆，新疆维吾尔自治AlGaN材料XRD检测，然后研磨
3.若试样中具有不同硬度的物质，在研磨中需要不断过筛，分离出粉化部分，防止过细，AlGaN材料XRD检测机构，后将试样混合均匀。
4.若试样是块状而且是高度无序取向的微晶颗粒，可直接使用，AlGaN材料XRD检测报告，如岩石、金属等。
5.金属和合金试样可碾压成平板使用，考虑到加工过程中引起择优取向，可做退火处理。
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