第三种产生光伏组件PID效应的原因是：光伏组件的边缘部分容易有水气进入，EVA发生水解后会生成醋酸，醋酸和玻璃中的Na反应，可以生成大量的自由移动的Na离子，会与电池片表面的银栅线发生反应，从而腐蚀电池栅线，导致串联电阻的升高，导致组件性能衰减，此类衰减不可恢复。
可知，光伏组件PID效应形成的原因主要有两类：
1.原PN结电场情况改变，或存在其它的电流通道，造成实际流过PN结的光生电流减小；
2.器件受到离子迁移的影响，材料性能发生了不可恢复的变化，和原始制造出的组件相比，输出功率变小。
目前，根据光伏组件PID效应产生原因，尽管可分别从电池、组件和系统端减弱或避免PID，但PID效应的影响终还是体现在电池片上。
因此，建议电池厂家对产品进行更的研究，上下游结合，整体考虑高的解决方案。
一、电路板图的描绘
描绘是指将设计好的电路板图复印到敷铜板上，并用耐腐蚀材料将线路覆盖。
1．复印
按需要大小裁切一块单面敷铜板，将上图所示电路板图用复写纸复印到敷铜板的铜箔面，如下图所示。
2．覆盖
覆盖的目的是将需要的铜箔部分(即线路)掩盖住，以便在腐蚀后保留下来。
覆盖可以采用任何便于操作的耐腐蚀材料，一例如油漆、树脂胶、涤纶胶带、耐腐蚀油彩等。
(1)油漆覆盖法。
用小毛笔蘸少许油漆，沿敷铜板铜箔面上复印出的线路细心涂覆，如上图所示。
涂覆过程中应保持线路平直，该覆盖的部分应全部严密覆盖。
涂覆中万一发生溢出，可在油漆干透以后用美工刀修去。
测试流程制定
6）再次同步测量环境中太阳辐照度、组件温度及环境气温，确保在IV特性曲线测量期间，辐照度和温度并未发生突变；
7）根据测量数据，计算IV特性曲线上大功率点，填充系数等特征参数，将所有数据打包，存储于SD卡内，本次IV特性曲线扫描结束。
当1组数据测量完成，平台可根据用户设定，库存组件价格，控制光伏组件工作于开路、短路或大功率等状态，直到下1次测量开始，可检测光伏组件长期处于特定状态工作性能。
为避免环境辐照度或温度变化对所测IV特性曲线的影响，使所测曲线更加光滑，能否快速的扫描IV特性曲线至关重要。
在上述测量流程中，AD转换器对光伏组件IV特性曲线上每个点同步测量时间约80μs，测量一组IV特性曲线数据需用时约22ms，一般而言，该测量时间内几乎不会出现环境辐照度或温度突变的状况。
在所测数据存入SD卡之后，DSP同时将测量数据封装为UDP包，通过以太网模块，经由测试平台路由器，发送至上位机，上位机在接收到每个UDP包后，都给予接收应答。
基于VB.NET编程技术，设计了上位机监控程序，它与DSP通信，并将数据存储于SQLServer数据库内，便于用户对组件户外长期工作性能分析和评估。
