景颐光电质量可靠 半导体荧光发光效率测试仪

荧光发光效率测试仪——荧光量子检测系统——广州景颐光电科技有限公司是一家生产积分球光功率检测仪的厂家

21世纪初，美国NIST研制了一台高精度的荧光光谱仪器，荧光的测量进入了精密测量的阶段。随着技术的发展，出现了几种较为便捷的量子产率测试方法。这些方法的仪器装置各有不同，测量结果的准确性也不同。加拿大国家计量局采用标准光谱辐射计校正入射光光谱功率分布，发光材料荧光发光效率测试仪，结合标准探测器和标准物质进行量子产率测试。该方法精度很高，但装置复杂，无法大规模普及应用。积分球技术的引入，再结合激发光谱和发射光谱的双光谱法进行量子产率测量，这类方法[6-8]的出现有效降低测量装置的复杂性，PET荧光发光效率测试仪，为量子产率测试仪器的普及提供了一定的理论依据。

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荧光量i子效率法测量系统由光源、单色仪、积分球、光纤及探测器组成。为了确保该测量方法的准确可靠，要将测量过程中影响测量结果的不确定因素排除或量化以进行校准。在测量过程中，光源通过单色仪进行分光，从而获得一定波长的单色光做激发光，所以不需要对整个光源的光谱进行校准，只需对激发单元的单色仪进行波长校准;发射单元的单色仪同样需要校准，确保光谱采集波长的准确性。

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测量原理

荧光量子产率测量系统采用法测定方式，是对积分球测量得到的荧光物质的真实荧光光谱直接进行计算的方法。因为样品散射出的光大部分都被积分球收集并进入荧光分光光度计的发射单色器中，半导体荧光发光效率测试仪，所以可以使用光谱中的峰面积数据代替样品散射出的光子数进行计算。与荧光量子效率相关的变量有吸收率、外量子效率和内量子效率，绍兴荧光发光效率测试仪，内量子效率即为荧光量子产率的定义。仪器经过光谱校正后，分别测量空白样品和荧光样品的真实发射光谱，如图8和图9所示，计算方法如式 (5) ～ (7)。新研制的荧光量子产率分析软件可自动计算得出样品的量子产率数值，如图10所示。

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