反射内存卡电子故障注入与诊断

反射内存卡电子故障注入与诊断

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天津光达航电科技有限公司
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彭学节(先生)
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经理
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1000件
规格参数:
型号 :VMIPCI5565品牌 :GE
加工定制 :

反射内存卡电子故障注入与诊断

  故障注入是指针对特定的故障模型,有意识的在目标系统中催出故障,加速其错误和失效的发生,通过分析系统对所注故障的回应信息,可以验证其容错和故障安全等信息。

  对于军用电子平台来讲,必须具有很高的运行稳定性、健壮性和可维修性。
因此在军用电子系统的设计、研发和测试过程中充分考虑各种异常状态可能带来的影响,是系统设计的重要内容。
故障注入通过模拟电子设备及其接口可能发生的异常( 包括物理连接失败、性能参数下降、功能失效、时序错误等),可对电子系统进行更全面的测试和验证。

  NI 为电子故障注入与诊断提供了的软硬件综合平台,结合基于PXI 总线的故障注入模块(FIU)、电压电流激励源、各种矩阵开关模块以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空总线接口模块可模拟军用电子设备与接口所发生的异常,并且可通过NI 的各种信号调理与采集模块将目标系统的回应信息进行采集分析。
NI LabVIEW、NI TestStand 等软件为故障注入与诊断提供了高效的ATE 测试程序开发与测试流程管理解决方案。

应用举例故障注入综合测试平台 器件级的故障注入:通过开放式的程序设计使设备可以强制”拉出”和”灌入”电流,注入的最短时间可程序控制板级/ 单元级电气层故障注入:通过开放式的程序设计使设备可以产生任意频率的数字时序,可以配合矩阵开关或多路复用开关进行故障注入板级/ 单元级物理链路层故障注入:使用矩阵/ 多路复用通用开关,通过开放式的程序设计使设备可以模拟任意通道短路、断路、信号电阻搭接等故障 同时对于此测试平台可通过NI TestStand 软件实现测试管理,且支持ATLAS 和ATML 案例:某研究所基于NI PXI 平台及相应软件构建上述故障注入所需的硬件与软件试验环境 具体看来,基于PXI 的SMU 模块可实现电流的”拉出”与”灌入”,并通过NI LabVIEW 编写程序控制时间到ms 量级。
基于PXI 的高速数字I/O 模块可以产生任意频率的数字时序,配合矩阵开关模块进行电气层故障注入。
基于PXI 的FIU 模块可以实现任意通道的短路、断路等故障模拟。
NI TestStand 测试管理软件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等语言编写的测试用例集成,并支持ATLAS 和ATML 的标准导入,无需编程即可快速而稳定地实现综测平台的集成工作。

人气
40
发布时间
2020-01-01 11:51
所属行业
其他工控系统及装备
编号
6271818
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