半导体体积电阻率测试仪 直接测量片状 薄膜 板状材料

半导体体积电阻率测试仪 直接测量片状 薄膜 板状材料

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北京华测试验仪器有限公司
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职位
经理
电话
010-86460119
手机
13391680256
品牌
华测
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型号
Huace-991
名称
半导体体积电阻率测试仪
起订
1台
供应
9999台
发货
3天内

 

半导体体积电阻率测试仪



 

产品介绍

 

Huace-991导电与防静电体积电阻率测试仪具有材料和用途的多种电极,测量范围1X10-6~1X108Ω。可以直接测量片状、薄膜、板状的材料的体积电阻率,在半导电材料检测稳定性方面使偏差降至1/60,抗干扰性能提高300倍。

 

 

产品优势

 

在半导电材料检测稳定性方面的技术更新

 

在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与 被测量材料表面电阻而影响测量准确性,HEST-991导电与防静电体积电阻率测试仪采用四电极(四点探 针或四探针)法测量导电和防静电材料体积电阻率,可以克服表面接触电阻造成的误差影响,采用的新式HC浮动电路与三轴连接器组合使用有效增强对电源干扰或外来干扰的稳定性(重复精度)大幅提升。普通的使用环境的偏差为0.007°/(代表值)与以往机型相比减少至1/60,从而使偏差从原来的基础上降到1/60,另外在掺杂50V突发干扰的条件下抗干扰性能提高300倍,偏差减少至1/300Huace-991系列配备可提供超稳定直流电源与高精度电流采集系统, 可测量半导体、导体材料的体积电阻率。

  

 

电阻率测量原理

 1、矩形内所有的组成对地绝缘电阻大于1012Ω

 2、供电电极

 3、电位电极

 Rn已知电阻

 

 

16mm大口径三轴连接器

 电流输入端采用大径三轴连接器,是将内部屏蔽连接至GUARD(COM)线,外部屏蔽连接至GROUND3层同轴设计。

 兼顾抗干扰的稳定性和高压检查时的安全性。

 

 

 

 

基本参数

 使用场所:室内使用,污染度2,海拔高度到2000m

 使用温湿度范围:0°C40°C80%rh以下,未结露

 保存温湿度范围:-10°C50°C80%rh以下,未结露

 电源/zui大额定功率:AC100 V240V (50Hz/60Hz)/45VA

 耐压:AC 4,000 V,感应电流10 mA [全部电源端子]-[保护接地,接口,测量端子]之间

 适用标准:EMC:EN61326 安全性:EN61010

 体积及重量:330Wx80Hx450Dmm, 5.9kg



人气
176
发布时间
2024-03-15 18:02
所属行业
其他专用仪器仪表
编号
23432677
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