IR9721博众半导体 星威系列-芯片外观检测机 AOI

IR9721系列利用深度学习算法和2D/3D测量技术，提供高性能和全自动的光学检测，以确定不同类型和尺寸的器件的封装质量。

AOI检测机是利用光学原理检测芯片缺陷的高速高精度全自动视觉检测设备，主要应用于芯片封装的研发与制造。可实现BGA, LGA, QFN, QFP等多种芯片封装类型的检测功能，*终保证芯片的质量及良率提升。