在半导体器件中，当电流接近临界电流水平时，载流子密度的微小波动会导致电流的随机变化，进而引起噪声。这种噪声是由于载流子的随机性和不确定性所导致的，被称为临界电流噪声。
临界电流噪声主要包括两个成分：1、1/f型噪声（或称为闪烁噪声）和高频噪声。
1、1/f型噪声是指在低频范围内出现的一种噪声，其功率谱密度与频率呈反比关系，即随着频率的降低而增加。这种噪声往往源于载流子在器件中的漂移和扩散过程中的非线性效应，以及杂质和缺陷等效应。1、1/f型噪声对于低频信号的传输和检测具有重要影响，可能导致信号的失真和系统的性能下降。
高频噪声是指在高频范围内出现的一种噪声，其功率谱密度在较高频率下减小或保持相对恒定。高频噪声主要源于载流子在电流交流过程中产生的热噪声，以及器件中的内部和外部电磁干扰等因素。高频噪声对于高频信号的传输和接收具有重要影响，可能导致信号的幅度衰减、相位失真和图像模糊等问题。
为了减小临界电流噪声的影响，可以采取以下措施：
1、 优化半导体材料和器件结构，降低非线性效应和杂质、缺陷对噪声的影响；
2、 优化电流源和电路设计，提高器件的工作点稳定性和线性度，减小噪声的产生；
3、 采用信号处理技术，如滤波、放大和数字处理等方法，降低噪声对系统性能的影响。