国标标准:GB/T 5594.1《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》

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GB/T 5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness现行1986-12-01实施

本标准适用于电子器件结构陶瓷室温下气密性的测试。

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 http://c./bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=74A08C2C678B1C8F7B3FB02A04627776

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发布时间
2023-11-25 02:31
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40374794
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