国标标准:GB/T 5594.5《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》

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GB/T 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity现行1986-12-01实施

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。

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 http://c./bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=67C88DAD13E29C2E75A614DD9E4577A1

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发布时间
2023-11-25 02:34
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编号
40374939
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