X射线光电子能谱仪(XPS)+饿歇电子能谱仪(AES)
XPS利用光电效应的原理，测量X射线激发出的光电子能量和计数，对样品表面几个纳米深度的范围内进行半定量的成分和化学态分析；AES利用电子激发出的俄歇电子，对表面进行微区的成分和化学态分析。
测试范围：
除H和He之外的所有元素
分析深度约5nm(AES约3nm)
检测下限约0.1%
空间分辨率约30μm(AES约10nm)
服务项目：
各种固体表面的元素成分
化学价态
分子结构分析
深度剖析
深圳市启威测标准技术服务有限公司提供的专业、高效、实惠的分析测试服务可以帮助客户节省昂贵仪器费用，管控产品质量，分析产品配方及加速产品研发。
热分析：DSC、TGA、DSC-TGA、TMA、DMA、旋转流变仪
色谱分析：GPC、GC、 GC-MS、LC、LC-MS
光谱分析：ICP、XRF、FTIR、XRD
核磁分析NMR：1H、13C、29Si 、31P、17O谱
质谱分析: 高分辨率、低分辨率质谱
粒度分析：马尔文激光粒度仪、 BET比表面积测试仪
电镜分析：SEM、TEM、AFM;