安车昇辉检测第三方机构性测试实验室拥有CNAS和CMA资质。测试项目包括：防水防尘测试、振动、机械冲击、高压蒸煮、包装跌落，恒温恒湿，冷热冲击、气体腐蚀、盐雾、氙灯老化、抗拉强度、硬度、拉伸强度、高低温测试等服务。如若您有关于检测认证的问题可以咨询我们，我们将为您解答，服务至您满意为止!
高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。
实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱一侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
高低温High and low temperature testing试验方法：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重复10次。
重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。
后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
实验室安全按照CNAS授权检测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、高低温极限、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿命、高低温耐受性试验技术服务，出具带有CNAS,CMA印章的第三方检测报告。