HAST高压蒸煮检测
HAST(Highly Accelerated Stress Test)高压蒸煮是一项测试微电子器件的可靠性的方法之一，通过模拟极端工作环境下的水分、温度、气压等因素，对器件的耐受程度进行评估，从而提高产品的可靠性。
测试项目
HAST测试主要关注器件的结构、材料、制作工艺和生产流程方面，其测试项目包括：
密封性测试； 湿热环境下电绝缘强度以及击穿电压试验； 盐雾腐蚀测试； 表面纹理变化观察等。 测试条件
HAST测试的环境条件主要包括：温度140℃、相对湿度95%、气压3.5atm，测试时长24-96小时（视不同测试项目而定）。
国内外测试标准
国际上对于HAST测试的标准主要有JEDEC JESD22-A110和MIL-STD-750C，国内的标准主要有GB/T2423.12-2013和GJB657A-2009等。
样品要求
测试样品一般为器件的部分组件或完整板卡，需符合相关的生产标准和规范。测试样品需采用差异性较大的相关材质进行对比测试。
测试流程
测试流程如下：
设定测试温度、相对湿度、测试时间； 将测试样品放入高压蒸煮测试设备内，并进行密封； 测试结束后，取出测试样品，进行各项测试指标的测量和检验； *终生成测试报告。 测试报告
测试报告将列明每个测试项目所使用的测试设备和测试方法，测试结果以及结论。如果发现问题，则会详细解释所发现的问题，并给出相应的建议。
如何申请测试
针对需要进行HAST测试的客户，需要在专业的第三方检测机构（如、UL等）进行申请。在申请测试前，客户需要向检测机构提供样品信息及相关资料，以方便检测机构预估测试费用并计划测试流程。
HAST测试可以帮助客户在产品研发和生产过程中提前发现问题并加以解决，在保证产品质量的同时，也节约了客户的时间和成本。