可靠性加速寿命试验加速模型及寿命分布模型，我们在做可靠性加速寿命试验时候经常用到可靠性寿命试验，加速寿命试验是采用高应力水平下的寿命特征去推测正常应力条件下的寿命特征，是要建立寿命特征和应力水平之间的关系，这个关系就是加速模型。
加速模型主要是用来描述失效模式的可靠性特征量（平均寿命、特征寿命、失效率）与加速应力水平之间的关系。
一、常用的加速寿命试验加速模型有：
阿伦尼斯模型（Arrhenius）、逆幂律模型、Peck模型、艾林模型
1、阿伦尼斯模型
在加速寿命试验中用温度作为加速应力是非常普遍的，因为高温能使产品的电子元器件、绝缘材料加快化学反映，造成产品提前失效。
阿伦尼斯模型是使用较为普遍的加速试验模型，它也称为热老化模型。
2、逆幂律模型
在加速寿命试验中用电应力如电压、电流、功率作为加速应力也是非常常见的。
逆幂律模型温度变化速率与循环次数满足逆幂律模式：
3、温湿度两综合的加速模型主要有：艾琳模型和Peck模型。
实际试验过程中，高温老化用阿伦尼斯模型、温度循环加速模型用W-E模型和逆幂律模型、温度+湿度两综合应力加速模型用Peck模型和艾林模型、机械应力或电应力采用逆幂律加速模型、也有采用温度+湿度+振动三综合应力加速模型的。
二、产品寿命分布模型
寿命分布模型是系统寿命特征的数学表达方式，对于电子设备统计方法一般采用失效时间建模方法，产品主要有两种状态，故障状态和工作状态。其中指数分布、威布尔分布、对数正态分布是常见的连续型寿命分布模型，二项分布、泊松分布、超几何分布是常见的离散型分布模型。