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LVDS物理层信号完整性测试、高速LVDS接口信号完整性测试
2023-12-15 14:00  浏览:40
LVDS物理层信号完整性测试、高速LVDS接口信号完整性测试


LVDS即低电压差分信号,是一种低功耗、低误码率、低串扰和低辐射的差分信号技术,这种传输技术可以达到155Mbps以上,英文全称Low Voltage Differential Signaling;LVDS接口又称RS-644总线接口,是20世纪90年代才提出的一种数据传输和接口技术。

LVDS技术的核心是采用极低的电压摆幅高速差动传输数据,可以实现点对点或一点对多点的连接,其传输介质可以是铜质的PCB连线,也可以是平衡电缆。

LVDS由于其低功耗,带宽可扩展等特点,被广泛的采用在移动电子设备上,屏幕和摄像头支持的分辨率越来越高,信号速率越来越快,电路板越来越小,信号探测难度越来越大。


一、LVDS技术及LVDS技术的特点

LVDS接口是美国国家半导体公司(NS)为克服以TTL电平方式传输宽带高码率数据时功耗大,电磁干扰大等缺点而研制的一种数字视频信号传输方式。由于其采用低压和低电流驱动方式,因此,实现了低噪声和低功耗。

具体归纳为:

LVDS接口高速传输能力

LVDS接口低噪声

LVDS接口低功耗

LVDS接口抗干扰能力强

LVDS接口可扩展

LVDS接口应用广泛

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图1.1 LVDS接口原理

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图1.2  LVDS类型

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图1.3  LVDS耦合和端接方式

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图1.4  Mini-LVDS

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图1.5  M-LVDS

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图1.6  Clock VS Data


二、LVDS 信号完整性测试案例

点位:从左往右Lane4-lane3-lane2-clk-lane1):

5.1.png

图2.1  LVDS测试样品及探棒测试连接

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图2.2  LVDS测试环境

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图2.3 测试眼图

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图2.4 测试波形


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