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控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 DDR2 复位测试 CLK测试
2023-12-15 14:51  浏览:11
控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 DDR2 复位测试 CLK测试

在上图中,可以清晰地发现,10bits的Column Address只有7bits用于列地址译码!列地址0,1,2并没有用!!!列地址0,1,2,这3bits被用于什么功能了?或者是DDR的设计者脑残,故意浪费了这三个bits?在JESD79-3规范中有如下的这个表格:

可以发现,Column Address的A2,A1,A0三位被用于Burst Order功能,并且A3也被用于Burst Type功能。由于一般情况,我们采用的都是顺序读写模式(即{A2,A1,A0}={0,0,0}),所以此时的A3的取值并无直接影响,这个后面章节中重点介绍。

CA[2:0]的值决定了一次Burst sequence的读写地址顺序。

比如一次Burst Read的时候如果CA[2:0]=3’b001表示低三位从地址1开始读取,CA3=0的时候按顺序读取1,2,3,0,5,6,7,4,CA3=1的时候交错读取1,0,3,2,5,4,7,6。

对于Prefetch而言,正好是8N Prefetch,对于Burst而言对应BL8。

BC4其实也是一次BL8的操作,只是丢弃了后一半的数据。

更形象地理解就是对于一个Bank里面的Memory Array,每个Memory Cell可以看作是一个Byte的集合体。CA[9:3]选中一行中的一个特定Byte,再由CA[2:0]选择从这个Byte的哪个位置开始操作。CA3既参与了列地址译码,也决定Burst是连续读取还是交错读取。Prefetch也决定了I/O Frequency和SDRAM Core Frequency之间的关系。

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