DDR3信号完整性测试,DDR3电源完整性测试,上电时序测试测试


三、DR 1&2&3 “读”“写”眼图测试
基于DDR“读”“写”信号相位不同的特征，本人**了一个**进行“读”“写”眼图的测试分析，**使用VEE Pro 7.5**界面，使用VEE Pro内嵌的Matlab脚本分析数据，基于规范的AC参数**模板，帮助工程师进行DDR信号完整性测试分析的复杂部分即“读” “写”数据眼图的测试分析。
图5是**界面和分析结果的一个示例，上面两福图形是用户界面。左边的是离线分析**，用示波器采集DQS和DQ信号，并且存为*.CSV文件。采集时，采样率设置为20GSa/s，存储深度设置为200k以上，确保捕获足够的数据，被测系统运行大型的**或MemoryTest.exe工具（此内存测试**能够进行内存总线的加压测试，一般做系统**的或内存**的都有），以让总线上有足够多的数据，来增加捕获各种码型和差情况的可能性。离线**调用采集的波形，自动去掉三态数据，把“读”数据放在一起，把“写”数据放在一起，基于DQS的有效边沿（去掉预调整和后调整后的上升边沿和下降边沿），累积在一起形成眼图，调用模板判断信号的优劣和是否满足规范要求。


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