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推拉力测试机 半导体 光通信 LED封装 剪切力测试
2024-03-05 23:19  浏览:45
推拉力测试机 半导体 光通信 LED封装 剪切力测试

1、拉力测试精度:传感器量程看下面表格选择,综合测试精度0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器);

2、小推力测试精度:传感器量程看下面表格选择,综合测试精度0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器);

3、大推力测试精度:传感器量程看下面表格选择,综合测试精度0.1%;(可根据客户需要配置不同量程传感器);

4、软件可开放选择:压力测试、推力疲劳性测试、芯片高度测量、线弧高度测量;

5、X工作台: 有效行程80mm;分辩率0.001mm(可根据客户需要定制更大行程);

6、Y工作台: 有效行程80mm;分辩率0.001mm (可根据客户需要定制更大行程);

7、Z工作台: 有效行程75mm;分辩率0.001mm (可根据客户需要定制更大行程);

8、平台夹具:平台可共享各种夹具,夹具可360度旋转;

9、四轴运动平台,采用进口传动部件,确保机台高速、长久稳定运行;

10、双摇杆控制机器四向运动,操作简单快捷;

11、机器自带电脑,windows作业系统,软件操作简单,显示屏可一次显示20组测试资料及力值分布曲线;并可实时汇出、保存资料;

12、外观尺寸:长570mm*宽400mm*高670mm;

13、电源:220V±5%   功率:300W(max);

14、驱动:采用日本松下伺服马达驱动,提供稳定,宽幅可调的转速驱动,高转速,低振动,高速定位。

15.传动:采用高精度滚珠螺杆轮传动,高效率,高刚性,变形小,低噪声;

16.导向:采用南埋韩原産之铬钢杆四柱导向,耐磨同轴性**;

17.驱动:采用日本松下伺服马达驱动,提供稳定,宽幅可调的转速驱动,高转速,低振动,高速定位。

18.位移测量:采用日本LINE高脉冲(10000r/p)光电编码器测量位移,高达:0.0001mm;

19.力值测量:采用进口高精密防爆型拉压荷重元,精度:0.03%F.S

20.机架外罩:采用冷轨钢板剪折成形,并经静电喷涂处理,耐腐防锈富有质感;


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