Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。
由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
Dage X光检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计，并且采用了符合人体工程学的设计，可提供高分辨率纳米级焦距 X射线系统，不仅可用于实验室故障分析，也可用于生产环境。
DAGE X光检查机 Dage NT 密封传送型 X 射线管是 Dage NT X 射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管，性能得到了很大的提升。
只有采用密封传送管才能切实提高 X 射线图像的分辨率，同时还能提供大功率，而不影响分辨率和放大率。
规格 | XiDat XD7500 |
尺寸(长x宽x高) | 1450 x 1700 x 1970mm |
重量 | 1900 KG |
ZUI小聚集光点 | 1micron |
Ｘ光发射管 | 开放管 |
X 射线管电压范围 | 30-160 KV |
ZUI大检测面积 | 458MM x 407MM |
ZUI大板尺寸 | 508MM x 444MM |
ZUI大样本重量 | 5 KG |
电源 | 单相 200-230V/16A |
斜角视图 | 0-70°(360°全方位检测) |
系统（几何）放大倍率 | 1065x |
辐射安全标准 | 1uSv/Hr(符合欧美标准）
|
主要特点：
DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征：
• ZUI小分辨率：950纳米(0.95 微米)；
• 影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
• 图像采集:1.3M万数字CCD；
• ZUI大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
• ZUI大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
• 系统ZUI大放大倍数: 至5650X；
• 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
• 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等