上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试ATS-730

上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试ATS-730

发布商家
伯东企业(上海)有限公司
联系人
叶南(女士)
职位
销售工程师
电话
021-63811212-219
手机
13918837267
品牌
inTEST
型号
ATS-710-M-7
连续排气量
4 至 18 scfm

inTEST ATS-730 高低温测试机(替代 TP04390)

inTEST ATS-730 超高速高低温循环测试机
温度范围:-85°C 至 +225°C
不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却
触摸屏式控制面板
inTEST ATS-730 超高速高低温循环测试机特点
变温速率:-55°C 至 +125°C, <10 秒
                   +125°C 至 -55°C, <10 秒
连续排气量:4 至 18 scfm ( 1.8 至 8.5  l/s)
温度显示分辨率:±1°C
温度显示精度:±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
2种检测模式 Air Mode DUT Mode (DUT 温度传感器:T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
加热盖提供局限性的温度测试环境,防止水气在DUT上凝结
手持热管也可以随意的移动到被测组件上;也可选购工作支架,省去手持的操作
LabView™驱动
CE相容 不含CFC
可提供机械臂或转台配置
机械臂(可选)可扩展高度达到检测高度
提供inTEST ATS-730-M 机械手臂版本和加长机械手臂版本ATS-730-H 以及ATS-730-T 测试腔版本供您选择!


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上海伯东: 朱女士                              台湾伯东: 王女士
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24
发布时间
2020-01-11 09:26
所属行业
高低温箱
编号
23417551
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