4系列标准塞规式孔径测量仪属于比对法测量，可快速高效测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件
DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计，保证了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，最大限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、准确得出测量结果。
测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！
测头结构 | 测头参数 | ||
1、手柄 | 测头形式：盲孔 | ||
2、显示装置 | 测量范围：+0.15mm | ||
3、测针 | 重复精度：0.001mm | ||
4、导向体 | 线性误差：1%测量行程 | ||
5、两瓣体 | 测点半径：1.5mm | ||
6、测点 | 测头寿命：可达100万次 |
