DCM-40错位测量显微镜
DCM-40/60是一款设计独特的显微镜，可分别或同时观察物体的表面和底面图像，并对两图像进行比较，还可以通过测量装置测量两图像（表面和底面）的偏差。用途：直接测量AB两个面的错位尺寸
可选的物镜有五种，放大倍率从50X~100X。测量精度可达1μm。
DCM-40/60主要应用于微电子行业，特别是在半导体行业。产品上下面尺寸有偏移时就可以直接对比测量，减少其它间接测量方式的误差且不会损坏产品。例如：晶圆划片基准印字偏移，柔性线路板线路间距，陶瓷电容片切割对位和IC框架边缘质量等应用。
规格：
型号 | DCM-40 | DCM-60 |
物镜 | 5X, 10X, 20X ,40X, 100X | |
工作台 | 50X50mm 100X100mm | 150X150mm |
光源 | 150W卤素灯2套 | |
工件厚度 | 20mm | 30mm |
选配件 | 照相系统、TV系统 | |
测量步骤：
1.将"光路选择开关"旋转到"Top& Bottom"位置，调整上、下物体的光轴至重合。
2.将工件置于工作台上。旋转"光路选择开关"到"Top" 位置，对焦上表面. .
3.旋转“光路选择开关"到"Bottom” 位置， 对焦下表面。.
4.将“光路选择开关"旋转到"Top &Bottom"位置，测量两图像的位置偏差。
