为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？
当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，宁夏便携式IGBT测试仪，因而使温度升高，并使其效能降低。
长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。
(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。
当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。
9、系统保护功能
9.1 有完备的安全控制单元，便携式IGBT测试仪价格，动态测试设备有传感器来保证操作者安全，设备任何门被打开均能快速切断高压电源。
9.2 有急停按钮，当急停按钮被按下时，迅速切断所有高压电源。
9.3 系统带有短路保护功能，便携式IGBT测试仪批发，在过载时迅速断开高压高电流。
9.4 操作系统带有多级权限。
9.5 系统应配有内置ups，保证计算机系统在电网短时间掉电情况下，为系统供电0.5小时以上，便携式IGBT测试仪现货供应，确保系统及数据安全。
10、样品夹具
10.1 有通用测试夹具。
10.2 带有62mm封装专用测试夹具
10.3 带有EconoPACK3封装专用测试夹具
10.4 带有34mm封装专用测试夹具
静态及动态测试系统技术规范供货范围一览表序号名称型号单位数量1半导体静态及动态测试系统HUSTEC-2010套11范围本技术规范提出的是限度的要求，并未对所有技术细节作出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货方应提供符合工业标准和本技术规范的优质产品。
本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，应按较高标准执行。
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