是德E4991A 射频阻抗/材料分析仪
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主要特性与技术指标
基本精度
? 基本精度 +/-0.8%
扫描参数
? 频率:1 MHz 至 3 GHz
? 振荡器电平:高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
? DC 偏置电平(选件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
? Windows 风格的用户界面
? 内置 VBA 编程功能
? 通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
? 介电/磁性材料测量(选件 E4991A-002)
? 可靠的晶圆测量(选件 E4991A-010)
? 温度特性测量(选件 E4991A-007)
描述
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能,帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同,E4991A 使用射频电流–电压(RF-IV)技术,可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估
E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案,涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助E4991A-010 探针台连接套件,您可轻松地地将 Keysight E4991A 连接到射频探头系统(由 Cascade Microtech 提供)上进行晶圆测量。
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灵活地传送数据,泰克(Tektronix)、安捷伦(Agilent)、是德(Keysight)、罗德与施瓦茨(R&S)、
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