跌落测试 ----
跌落测试通常是主要用来模拟未包装/包装的产品在搬运期间可能受到的跌落，检验产品抗意外冲击的能力。
通常跌落高度是根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。
跌落测试根据检验的目的及样品的类型不同，可以分为自由跌落、定向跌落、微跌落、零跌落。
对于不同国际规范，即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品(如手机）则建议落下高度为150cm。
试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
参考标准
GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
IEC60068-2-32电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
GB/T4857.5包装 运输包装件 跌落试验方法