集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能。
成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管。
性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近。
2006年，芯片面积从几平方毫米到350 mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管。
个集成电路雏形是由杰克·基尔比于1958年完成的，其中包括一个双极性晶体管，三个电阻和一个电容器，相较于现今科技的尺寸来讲，体积相当庞大。
个的软元件之间执行成批复位的指令。
用于在中断运行后从初期开始运行时，以及对控制数据进行复位时。
功能和动作说明1.16位运算(ZRST、ZRSTP)将同一种类的D1～D2全部复位。
D1，D2为位软元件时D1～D2的软元件范围全部被写入OFF(复位)。
D1,D2为字软元件时D1-D2的软元件范围全部被写入K0。
注意要点1.软元件时的注意事项D1，D2为同一种类的软元件，且D1编号≦D2编号。
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下面说说三菱PLC在ST语言下的一些不足：只能声明一维数组三菱PLC只能声明一维数组，这对编程人员来说有了很大的限制。
像西门子、倍福、施耐德都是可以声明数组的：上图是门子博图软件声明的一个三维int数组，如果三菱支持这个功能，上面蜘蛛纸牌的程序中BEHIND_LINE[ii].Numb[jj]就不必写成结构体+数组的形式，直接写成一个二维数组BEHIND_LINE[ii,jj]就可以了。
只能建立一层结构体在三菱的结构体中只能声明基本类型的标签，无法声明其他的结构体，这也注定了三菱不能像施耐德和西门子那样完成复杂的逻辑功能。
集成电路（IC）芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，它直接影响到 IC 产品的质量及后续生产环节的顺利进行。
外观检测的方法有三种：一是传统的手工检测方法，主要靠目测，手工分检，可靠性不高，检测效率较低，劳动强度大，检测缺陷有疏漏，无法适应大批量生产制造；二是基于激光测量技术的检测方法，该方法对设备的硬件要求较高，成本相应较高，设备故障率高，维护较为困难；三是基于机器视觉的检测方法，这种方法由于检测系统硬件易于集成和实现、检测速度快、检测精度高，而且使用维护较为简便，因此，在芯片外观检测领域的应用也越来越普遍，是 IC 芯片外观检测的一种发展趋势。