集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能。
成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管。
性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近。
2006年，芯片面积从几平方毫米到350 mm²，每mm²可以达到一百万个晶体管。
个集成电路雏形是由杰克·基尔比于1958年完成的，其中包括一个双极性晶体管，三个电阻和一个电容器，相较于现今科技的尺寸来讲，体积相当庞大。
CJX2-3201CJX2-3210再比如，这两个型号的接触器，CJX2-3201和CJX2-3210，“32”是额定电流，后面的个字母是常开辅助触点个数，第二个数字是常闭触点个数，也就是说3201是带0个常开辅助触点，1个常闭辅助触点，而3210则是1组常开辅助触点，0组常闭触点。
还有比如这个CJX2-9511,“95”是额定电流，“11”代表1组常开辅助触点，1组常闭辅助触点。
那就有朋友说了，好了，知道了，按这个方法套就可以了。
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使用高压验电器的注意事项：1.戴上符合要求的绝缘手套，不可一个人单独测试，戴上符合要求的绝缘手套;不可一个人单独测试；2.注意天气的变化，天气必须良好。
雨、雪、雾及湿度较大的天气中不宜使用普通绝缘杆的类型；3.使用高压验电器前，注意所测设备(线路)的电压等级，对应规定长度，选择合适的型号；4.确保高压验电器的表面干净，转动至我们所需的角度，这样做的目的可以方便我们进行准确清晰的观察数据；5.必要重要，也是很多人比较容易忽略的一点就是使用时，应注意手握部位不得超过护环，避免发生危险。
集成电路（IC）芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，它直接影响到 IC 产品的质量及后续生产环节的顺利进行。
外观检测的方法有三种：一是传统的手工检测方法，主要靠目测，手工分检，可靠性不高，检测效率较低，劳动强度大，检测缺陷有疏漏，无法适应大批量生产制造；二是基于激光测量技术的检测方法，该方法对设备的硬件要求较高，成本相应较高，设备故障率高，维护较为困难；三是基于机器视觉的检测方法，这种方法由于检测系统硬件易于集成和实现、检测速度快、检测精度高，而且使用维护较为简便，因此，在芯片外观检测领域的应用也越来越普遍，是 IC 芯片外观检测的一种发展趋势。