CT检测原理
工业CT是在射线检测的基础上发展起来的，射线检测，其基本原理是：让一束X射线投射在物体上，通过物体对X射线的吸收（多次投影）便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为I0的一个窄束X射线穿过吸收系数为的物体时，其强度满足指数衰减关系：
式中为X射线所穿过物质层厚度。
在实际情况中，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。
CT检测发展
一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统，射线检测报价，系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值)，射线检测价格，被检物则按M个分度作旋转运动，被检物仅需转动180%。
代CT机结构简单、成本低、图像清晰，射线检测公司，但检测效率低，在工业CT中已经很少采用。
二代CT是在第代CT基础上发展起来的。
使用单源小角度扇形射线束多探头，射线扇束角小、探测器数目少，因此扇束不能全包容被检断层，其扫描运动除被检物作M几个分度旋转外，射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。
在至全都覆盖被检物，得到所需的成像数据。
CT检测分立探测器
工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。
而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。
气体探测器具有天然的准直特性，限制了散射线的影响，几乎没有窜扰，且器件一致性好。
缺点是探测效率不易提高，高能应用有一定限制。
其次探测单元间隔为数毫米，对于有些应用显得太大。
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