对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，校准试样机构，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，校准试样，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
对比试样校准检测
可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查，并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示，可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测，考虑到试块需加工内部球孔缺陷，所以取管道原长度的1/2进行加工，校准试样方案，由于无法采用传统线圈探头进行检测，所以采用板波探头进行检测，换能器的设计分为柔性和硬性两部分，其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。
对比试样校准测量结果差别大？
探头的放置方法对测量有很大影响，在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长，校准试样公司，避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头，由于这么不仅对探头会形成磨损，也不会得到的测量成果。别的，基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常，假如离电磁场十分近时还有也许会死机。
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