XRD小角度检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
5.精修的时候Size是怎么知道的？
答：通过单晶衍射仪，晶体在衍射环中的大小来预估的。
6.checkcif报告算是一个确认解析正确无误的可信依据吗？没有错误在里面就行吗？
答：对的，没有严重的A和B类错误，XRD小角度检测测试，是可以发表的。
7.如果解出来的结构有disorder作图的时候就是那样全部保留着作图 ，还是删掉低占有率的，然后再作图啊？还有这个diamond出的图感觉清晰度好像也不是那么清楚， 怎么把出图的清晰度调高一些啊？
答：结构中有无序disorder时，把占有率低的一半原子删掉，保留占有率高的一半。在Diamond软件里有个Picture，选Layout，里面有可以调图片大小和分辨率的。
8.合成出2到3mm大小的单晶，这个尺寸适合拿来单晶测试吗？
答：这个尺寸大了，理想尺寸是0.3-0.5mm。但是过大的尺寸，我们可以通过刀来进行切割后再测试。
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X射线发生器
X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管，其阴极是钨丝，阳极为金属片。
在阴极两端加上电流之后，钨丝发热，产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速，轰击阳极(又称靶)，产生X射线(此过程产生大量热量，为了保护靶材，必须确保循环水系统工作正常)。
常见的阳极靶材有：Cr， Fe， Co， Ni， Cu， Mo，XRD小角度检测服务， Ag， W，常用的是Cu靶。
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晶粒大小的计算
衍射粉末晶粒大小的计算主要是以衍射图谱的半宽高为依据来进行相关计算。如果把衍射峰简单地看作是一个三角形，那么峰的面积等于峰高乘以一半高处的宽度。这个半高处的高度有个专门名词，称为“半高宽”，英文写法是FWHM。
样品的晶粒比常规的晶粒小或晶粒内部存在微观的应变均会引起FWHM变宽，导致结果存在误差。所以在使用jade计算时，不同的粉末状态对应不同的计算方法，应根据粉末的实际情况选择相应的宽化因素。
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