半导体XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
5.自己使用仪器测试，测样前处理样品是否需要固体研磨时间？一份样品是否多测两次观察是否有较大差异？仪器是否有定期的矫正方法或者可以使用标准样品矫正？
答：一般情况下，处理样品不需要固体研磨时间，只要样品的粒度达到要求即可；同一样品没有必要多测两次观察是否有差异，黑龙江半导体XRD检测，因为X射线衍射仪短期内是不会出现测样误差的；X射线衍射仪有定期的矫正方法，具体到不同型号方法不同，半导体XRD检测哪家好，可以咨询应用工程师；也可以用标准物质进行矫正。
6.点光源和线光源测试的结果一致吗？
答：不一致，两种光源的应用范围不同，线光源用于常规粉末的定性定量分析、薄膜的掠入射和反射率分析等；点光源常用于织构、应力、微区等分析。
7.块体样品在对峰时需要注意什么？
答：块体样品在对峰时需要注意的地方和粉末样品一样；在测试的时候需要注意块体的高度，如果过高的话，X射线会打到块体的侧面，影响实验结果。
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液相扩散法
向良溶剂的溶液中扩散不良溶剂：适用于两种溶剂中溶解度差别很大的化合物。
层铺法：
上层：不良溶剂
中间：混和溶剂缓冲层
下层：良溶剂的溶液
（下层溶剂比重应比上层大，且两种溶剂必须互溶。）
下层：CH2Cl2 (CHCl3) ? 上层：己烷 (庚烷、辛烷等)
下层： CH2Cl2 (CHCl3) ?上层： (乙醇等)
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动力学衍射理论
Ewald的理论称为动力学理论。该理论考虑到了晶体内所有波的相互作用，认为入射线与衍射线在晶体内相干地结合，而且能来回地交换能量。两种理论对细小的晶体粉末得到的强度公式相同，而对大块完整的晶体，则必须采用动力学理论才能得出正确的结果。
布拉格方程
1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础，不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构，并提出了作为晶体衍射基础的公式──布拉格方程：2dsinθ=nλ
式中d为晶面间距；n为反射级数；θ为掠射角；λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。
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