XRD晶粒尺寸检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
薄膜分析中常用的X射线方法有：
粉末衍射仪和薄膜衍射仪
现在，分辨率较高的粉末衍射仪已经可以应用于薄膜的分析在多晶粉末衍射仪上添加薄膜附件用于做薄膜的测试即可。例如，日本理学公司用弯曲多层膜全反射和多重晶单色器组合开发出了薄膜衍射仪。从这类衍射仪得到的数据可以提取薄膜的相结构、晶格大小、晶粒尺寸、择优去向等信息。
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1.当一个谱图中出现多个物相时，怎么区分出来？如果有部分峰找不到对应的物相怎么解释？
可以用软件直接区分。找不到物相有两个原因，一是数据库不够新，这种物质在数据库里面没有，需要用更新的数据库来搜索；二是合成了新物质，现在还没有收录到数据库里面，所以定性找不到对应物质。
2.长程有序是指什么啊？
长程有序就是在特定方向按照一定顺序一直排列下去，叫做长程有序，可以理解成射线或者直线的意思，XRD晶粒尺寸检测服务，整齐划一的感觉。
3.为避免测试条件的影响，是不是要对比的样品应该同一批送样测试呢？
是的，四川XRD晶粒尺寸检测，需要对比的样品尽量同一批次送样测试，可以消除外在影响。
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XRD定性分析
实际上，XRD作为定性分析手段并不是盲目的，不是所有情况都需要通过Jade对样品进行Search & Match， 而实际上Jade由于标准卡片的数目限制也无法涵盖所有物质的标准谱图。因此，借助分析软件只是为了便利，从根本上来说，重要的是XRD谱图本身。这一点和物理吸脱附实验一样，关键的是吸附等温线，而比表面积，孔容孔径只是采用理论模型针对吸附等温线进行处理而已。这个本末关系大家一定要搞清楚。
为了强调XRD谱图本身的重要性，采用合金的形成与否作为例子进行简单地介绍。对于双金属(多金属)纳米颗粒而言，XRD是一种常见的判断其是否形成合金的手段。判断的依据不是基于JCPDS标准图谱，而仅仅基于XRD衍射图样。
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