半导体XRD检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
制作试片的技巧
压片法：粉末均匀撒入样品池——用小刀剁实压紧——刮去多余凸出的粉末
涂片法：粉末撒在25mm*35mm*1mm的载玻片上——滴上足量的或酒精（假如试样在其中不溶解）——待/酒精挥发
两种制备几乎无择优取向试片的方法：（塑合法）（喷雾法）
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XRD小角衍射与普通XRD的区别
一、指代不同
1、小角衍射：利用电子显微镜中聚焦的电子束照射 样品，半导体XRD检测实验室，电子在原子的静电场作用下发生散射。
2、XRD：通过对材料进行X射线衍射，半导体XRD检测多少钱，分析其衍射图谱，青海半导体XRD检测，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
二、特点不同
1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，经放大得到试验的高分散衍射。
2、XRD：用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。
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双晶衍射仪法
双晶衍射仪的原理大致为，一束特征X射线经准直后入射到高度完整的参考晶体a上，a可以去对称或不对称Bragg几何把X射线作选择反射。由于a的高度完整，使自a反射的X射线的单色性和发散度都得到明显改善。改善的X射线入射到样品上，样品的衍射记录在探测器上。
为了提高入射线的平行度和色性，可用多块晶体代替参考晶体a，如果把样品在其选定衍射的Brag角附近绕垂直于微入射面的轴转动，就可获得样品的反射强度随角度变化的曲线，即所谓摇摆曲线。从摇摆曲线可提取的信息有：
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