XRD残余应力检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
如何计算出来理论衍射图(给定晶格参数和实验参数后，如何计算得到 X 射线衍射图)?
先，模拟（就是你说的"计算"）是要基于许多理论模型的，因为粉末衍射图样的形成要 受很多因素的影响，峰的位置、形状，峰彼此之间的影响都可以用一些模型来描述，三两句话说不清楚；
第二，有大量的现成的软件可以用；
第三，如果你打算把粉末衍射的模拟作为你的研究课题，你应该多看一些文献和基本原理 的介绍。只要你有了晶胞参数、原子坐标，就可以用大量的现成的软件来计算出的X 射线粉末衍射图。
有单晶 X 射线衍射推算出来的晶胞参数，请问我怎么才能反推算出该晶体的粉晶衍射图？
需要原子坐标！如果你有结构数据，XRD残余应力检测分析，就可以从理论上算出粉末衍射图。例如，通过Fullprof、 Diamond软件工具即可以得到该晶体的粉末 XRD 图，也可以使用 Materials Studio 的 reflex plus 模块算出来，不用自己手工算了。
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XRD 峰整体向右偏移是什么原因造成的?
可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。
也可能是你制样时，福建XRD残余应力检测，样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的，XRD残余应力检测报告，建议你好用标样来修正你的数据。
把样品靠后放置，使样品偏离测角仪中轴大概有 1mm，请问衍射峰会怎么变化?
峰位移向低角度。样品表面偏离测角仪转轴 0.1mm，衍射角的测量将产生约 0.05度(2θ)的误差(对 Cu 靶，在 2θ 20度附近的位置)。
影响仪器测量结果的分辨率仅仅取决于θ吗?
影响仪器测量结果的分辨率的因素是多方面的：测角仪的半径;X 射线源的焦斑尺寸;光学系统的各种狭缝的尺寸;仪器调整情况(2：1 关系);采数步宽;样品定位情况等。
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做钴酸锂 XRD 衍射实验时，XRD残余应力检测机构，在 X 衍射仪上做出的衍射图片，个衍射峰特别高，其他的衍 射峰特别低，不成比例，是仪器本身的原因，还是发生了择优取向，请各位高手指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验，还是多晶膜等？如果是粉末，那可能就是择优取向了。
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁，XRD 与标准 JCPDS 相比衍射峰有规律向左偏移，这表达什么晶体结构的信息啊？
如果各峰的偏移基本上是一个固定值，原因是 2θ零位不正确；样品平面后仰；组成偏离化学式，未知的偏离导致晶格变大了一些。
用 Jade5 软件可以进行 XRD 定量分析吗?
XRD定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据）， 余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如 WPS Ofice 的"WPS 表格"、微软的Excel）完成甚为方便。因此，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行XRD定量分析，当然，有Jade 软件更为方便。
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