XRD残余应力检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
1.如果谱图中出现了并峰（两个峰并成了一个大峰）怎么解释？
答：出现并峰的这两个峰应该离的很近，并峰说明这两个峰对应的晶面没有长好（如果对样品进行了某种处理，那么也有可能这种处理方式破坏了这两个晶面）
2.当某种物质部分结晶时，为使定量，有没有其他辅助方式？
答：部分结晶的物相至少要出现三强峰，此时可以进行定量无需辅助。否则不能进行定量。
3.研磨样品200目怎么控制呢？
答：200目是大概的范围，可以用筛子筛分。
4.晶胞结构亚微米级别，研磨以后会不会破坏晶体结构，影响分析？
答：过度研磨是会破坏晶体结构，影响分析的。
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17.如果样品室测铜，可以用铜靶吗
可以的，铜耙是用来和电子流碰撞产生X射线的，而且铜耙主要是测试无机物，所以测试铜是完全没有问题的。
18.样品里面有Co用什么靶材
用适合消除磁性元素荧光背底的钴耙测试。
19.Jade 和High软件有什么优缺点，XRD残余应力检测费用多少，推荐那个，谢谢
Jade可以更好的计算结晶度，但是定性定量不好操作，可以打开TXT格式的数据。High软件在定性定量这块做的很好了，晶体结构信息也归纳的很完善，但是计算结晶度不行，而且不能打开TXT格式的文件。
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XRD残余应力检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，内蒙古自治XRD残余应力检测，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，XRD残余应力检测服务，以及行业应用技术开发。
XRD小角衍射与普通XRD的区别
一、指代不同
1、小角衍射：利用电子显微镜中聚焦的电子束照射 样品，电子在原子的静电场作用下发生散射。
2、XRD：通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，XRD残余应力检测分析，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
二、特点不同
1、小角衍射：消除反射、折射 和二次散射后，经放大得到试验的高分散衍射。
2、XRD：用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。
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